Kết quả tìm kiếm cho: thước đo độ cong

Quang phổ huỳnh quang tia X tán xạ bước sóng XRF-1800

SMZ XRF1800

– Thiết bị WDX đầu tiên trên thế giới có chức năng phân tích lập bản đồ phân bố nguyên tố với độ phân giải 250µm.
– Dải nguyên tố có thể phân tích: 4Be-92U.
– Phân tích định tính, định lượng sử dụng phổ tia X bậc cao (công nghệ độc quyền).
– Hệ thống tải mẫu đã được thử nghiệm và đánh giá kỹ lưỡng [Đã được cấp bằng sáng chế] giúp hệ thống vận chuyển mẫu nhanh, ổn định và bảo trì dễ dàng.
– Quét cực nhanh (300°/phút) giúp phân tích định tính/định lượng nhanh chóng và dễ dàng.
– Chức năng phân tích cục bộ