Kết quả tìm kiếm cho: dũa tròn

Máy phân tích vi mô đầu dò điện tử EPMA-1720

SMZ EPMA1720

Máy phân tích vi mô đầu dò điện tử (EPMA) là thiết bị phân tích chiếu xạ chùm electron qua một bộ khẩu độ tinh vi vào bề mặt mẫu và tách các tia X cụ thể được tạo ra để đo cường độ tín hiệu thu được. Điều này cho phép xác định thành phần của các nguyên tố ở một khu vực vi mô và phân bố nguyên tố trên bề mặt mẫu. Thiết bị quang phổ tia X tán sắc bước sóng (WDS) được sử dụng trên các EPMA có ưu điểm độ phân giải cao hơn so với máy quang phổ tia X tán sắc năng lượng (EDS). Vì lý do này, các phân tích có thể thực hiện trên máy EPMA với độ nhạy cao, độ chính xác cao hơn nhiều so với với Kính hiển vi điện tử quét (SEM-EDS).

Tiếp tục đọc →

Quang phổ nhiễu xạ tia X XRD-7000

SMZ XRD7000

Quang phổ nhiễu xạ tia X Shimadzu XRD-7000 là máy đo nhiễu xạ tia X nhỏ gọn và đa năng được trang bị mặc định giác kế Theta-Theta có độ chính xác cao và có thể xử lý các mẫu rất lớn so với các thiết bị thông thường – lên đến D400 × R550 × C400mm. Ngoài phân tích định tính và định lượng cơ bản, dòng XRD-7000 còn xử lý định lượng austenite dư, phân tích định lượng môi trường, xác định hằng số mạng chính xác, tính toán mức độ tinh thể hóa, kích thước tinh thể, tính toán biến dạng tinh thể, cũng như phân tích Rietveld và phân tích cấu trúc tinh thể dựa trên phần mềm khác. Các bộ nâng cấp (tùy chọn thêm) phần cứng có sẵn cho phép đo ứng suất, đo ở điều kiện cách ly mô trường xung quanh và đo mẫu màng mỏng.

Tiếp tục đọc →

Kính hiển vi đầu dò quét SPM-8100FM

SMZ SPM8100FM

Đưa thế giới Nano đến với cuộc sống nhờ Kính hiển vi đầu dò quét độ phân giải quét cao (HR-SPM) mới sử dụng nguyên tắc phát hiện thay đổi tần số.
Không giống như các dòng máy SPM trước đó hay Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) sử dụng nguyên lý điều chế biên độ (AM), dòng SPM-8100FM sử dụng nguyên lý điều chế tần số (FM) nên cho độ phân giải ảnh cao hơn nhiều.
Đặc biệt, thiết bị này được phát triển trong khuôn khổ của Chương trình Phát triển Hệ thống và Công nghệ dành cho Đo lường và Phân tích Nâng cao, được thực hiện bởi Bộ Khoa học và Công nghệ Nhật Bản (JST).

Tiếp tục đọc →

Quang phổ huỳnh quang tia X tán xạ bước sóng đa kênh MXF-2400

SMZ MXF2400

– Máy quang phổ tia X đa kênh đầu tiên trên thế giới được lắp đặt ống tia X 4 kW (cửa sổ mỏng)
– Tối đa 36 phần tử có thể được xác định đồng thời bởi bộ đơn sắc cố định và tối đa 48 phần tử có thể được xác định tuần tự bằng bộ đơn sắc quét tùy chọn. Độ chính xác phân tích cao được cung cấp ngay cả trong phân tích độ nhạy cao của một mức độ số lượng ppm.
– Phạm vi phân tích: 4Be, 5B, 6C đến 92U)
– Phần cứng mới nhất được thiết kế để sử dụng đầy đủ nguyên lý của phép đo phổ huỳnh quang tia X và bộ xử lý dữ liệu sử dụng các chương trình phần mềm khác nhau để cho phép quản lý tự động dữ liệu phân tích kết hợp để cung cấp năng suất phân tích cao cả trong R&D và kiểm soát sản xuất.

Tiếp tục đọc →