Module chuyển đổi tín hiệu PXI PXIe-2515
Module chuyển đổi tín hiệu PXI PXIe-2515
{{productOption.DisplayGiaBan}}
                                            {{productOption.DisplayGiaGiam}}
                                            {{productOption.TiLeGiamGia}}% giảm
                                        {{productOption.DisplayGia}}
                                    Sản phẩm chưa bao gồm VAT
                                                 Miễn phí vận chuyển
 Miễn phí vận chuyển
                                                    Cần tư vấn thêm? Hotline/Zalo: 0966 580 080 
                                | Danh mục | |
| Thương hiệu | National instrument | 
| Model | NIPXI3-37-007 | 
| Tags | |
| Vận chuyển | |
| Cập nhật | |
| Mô tả ngắn | Mô phỏng các lỗi mở, pin-tới-pin, nối tắt tới pin và nối tắt tới đất để kiểm tra độ tin cậy của phần cứng (HIL) và kiểm tra độ tin cậy điện tử. | 
THÔNG TIN CHI TIẾT
                            Simulates open, pin-to-pin, short-to-battery, and short-to-ground faults for hardware-in-the-loop (HIL) and electronic reliability testing.
Simulates open, pin-to-pin, short-to-battery, and short-to-ground faults for hardware-in-the-loop (HIL) and electronic reliability testing.
TÀI LIỆU SẢN PHẨM
                            Datasheet
                                                    
                                                Đánh giá và nhận xét
    Hiện chưa có nhận xét nào cho sản phẩm.
Cho người khác biết ý kiến của bạn và trở thành người đầu tiên nhận xét sản phẩm này.
 
                 
                                                 Download
Download
Trả lời bình luận