Đề nghị báo giá
Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X O series
Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X O series
Miễn phí vận chuyển
| Danh mục | Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT > Máy đo độ dày |
| Thương hiệu | Bowman |
| Model | O series |
| Tags | |
| Vận chuyển | |
| Cập nhật | 16:05 30/09/2020 |
| Mô tả ngắn | Dòng O kết hợp hiệu suất cao với kích thước điểm x-quang nhỏ. Điều này được thực hiện nhờ hệ thống quang học tập trung đa mao quản thay thế cụm collimator được cài đặt trong các hệ thống Bowman tiêu chuẩn. Hệ thống quang học được thiết kế để tập trung các tia X đến từ ống phóng đến kích thước điểm rất nhỏ (80μm FWHM) trong khi vẫn giữ được gần như 100% thông lượng ống. Kết quả là thiết bị có thể phân tích các diện tích siêu nhỏ, màng siêu mỏng với độ nhạy vượt trội. Sử dụng đầu thu SDD tiên tiến cho thời gian đo lường ngắn nhưng độ lặp tốt hơn các hệ thống tương tự sử dụng bộ collimator |
Dòng O phù hợp nhất với khách hàng với các yêu cầu sau:
- Các bộ phận/chi tiết rất nhỏ như chất bán dẫn, đầu nối hoặc PCB
- Yêu cầu kiểm tra nhiều mẫu hoặc nhiều vị trí trên mỗi lô
- Cần đo lớp phủ rất mỏng (<100nm)
- Thời gian đo rất ngắn (1-5 giây)
- Đảm bảo đáp ứng IPC-4552A, 4553A, 4554 và 4556
- ASTM B568, DIN 50987 và ISO 3497
- Dải nguyên tố đo: 13Al - 92U
- Bộ phát tia X: 50W, 50kV, 1mA
- Bộ thu tín hiệu: SDD cho độ phân giải tốt hơn 135eV
- Số lớp đo tối đa: 5 lớp tính cả nền
- 2 lọc tia X sơ cấp
- Hệ thống quang học mao mạch cho chùm tia 80um FWHM
- Độ sâu tiêu cự: cố định tại 0,1inch (2,54mm)
- Độ phóng đại camera: 50X (đơn camera)
- Kích thước bàn mẫu (x,y): 381mm x 340mm
- Kích thước trong: R310 x D340 x C140mm
- Kích thước ngoài: R450 x D600 x C450mm
- Khối lượng 53kg
- Nguồn điện: 150W, 100-240VAC chưa bao gồm máy tính
DownloadHiện chưa có nhận xét nào cho sản phẩm.
Cho người khác biết ý kiến của bạn và trở thành người đầu tiên nhận xét sản phẩm này.
Trả lời bình luận