Đề nghị báo giá
Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X O series
Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X O series
| Danh mục | Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT > Máy đo độ dày |
| Thương hiệu | Bowman |
| Model | O series |
| Cập nhật | 16:05 30/09/2020 |
| Mô tả | Dòng O kết hợp hiệu suất cao với kích thước điểm x-quang nhỏ. Điều này được thực hiện nhờ hệ thống quang học tập trung đa mao quản thay thế cụm collimator được cài đặt trong các hệ thống Bowman tiêu chuẩn. Hệ thống quang học được thiết kế để tập trung các tia X đến từ ống phóng đến kích thước điểm rất nhỏ (80μm FWHM) trong khi vẫn giữ được gần như 100% thông lượng ống. Kết quả là thiết bị có thể phân tích các diện tích siêu nhỏ, màng siêu mỏng với độ nhạy vượt trội. Sử dụng đầu thu SDD tiên tiến cho thời gian đo lường ngắn nhưng độ lặp tốt hơn các hệ thống tương tự sử dụng bộ collimator |
Cần tư vấn thêm? Hotline/Zalo: 0966 580 080
Dòng O phù hợp nhất với khách hàng với các yêu cầu sau:
- Các bộ phận/chi tiết rất nhỏ như chất bán dẫn, đầu nối hoặc PCB
- Yêu cầu kiểm tra nhiều mẫu hoặc nhiều vị trí trên mỗi lô
- Cần đo lớp phủ rất mỏng (<100nm)
- Thời gian đo rất ngắn (1-5 giây)
- Đảm bảo đáp ứng IPC-4552A, 4553A, 4554 và 4556
- ASTM B568, DIN 50987 và ISO 3497
TỪ KHÓA LIÊN QUAN
