Đề nghị báo giá
Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X W series
Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X W series
| Danh mục | Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT > Máy đo độ dày |
| Thương hiệu | Bowman |
| Model | W series |
| Cập nhật | 16:05 30/09/2020 |
| Mô tả | Dòng W sử dụng hệ thống quang học đa mao mạch để tập trung chùm tia X tới 7,5um FWHM, kích thước chùm tia nhỏ nhất thế giới để phân tích độ dày lớp phủ bằng công nghệ XRF. Điều này làm cho nó trở nên lý tưởng để đo các mẫu như BGA và các vết hàn nhỏ hơn. Một máy ảnh phóng đại 150X được sử dụng để đo các chi tiết cấp độ nhỏ đi kèm với một camera thứ hai, độ phóng đại thấp cho phép xem trực tiếp mẫu hoặc xem chế độ hình ảnh toàn cảnh Macro. Hệ thống camera kép của Bowman, cho phép người vận hành nhìn thấy toàn bộ mẫu, nhấp vào hình ảnh để phóng to bằng máy ảnh cao cấp và xác định chính xác vị trí cần đo lường. Phần mền nhận diện tự động có thể tự động lựa chọn điểm đo. Ngoài ra chức năng bản đồ phân bố 3D có thể được sử dụng để lập bản đồ phân bố bề mặt mẫu. |
Cần tư vấn thêm? Hotline/Zalo: 0966 580 080
'Dòng W là lý tưởng nhất cho các công ty yêu cầu:
- Cần kiểm tra tấm nền chíp (wafer) trong sản xuất chíp bán dẫn, khung chì, PCB kích thước nhỏ
- Yêu cầu kiểm tra nhanh nhiều mẫu hoặc vị trí
- Mong muốn tự động hóa phép đo trên nhiều mẫu
- Cần thiết phải tuân thủ IPC-4552A, 4553A, 4554 và 4556
- ASTM B568, DIN 50987 và ISO 3497
TỪ KHÓA LIÊN QUAN
