Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X W series
Dòng W sử dụng hệ thống quang học đa mao mạch để tập trung chùm tia X tới 7,5um FWHM, kích thước chùm tia nhỏ nhất thế giới để phân tích độ dày lớp phủ bằng công nghệ XRF. Điều này làm cho nó trở nên lý tưởng để đo các mẫu như BGA và các vết hàn nhỏ hơn. Một máy ảnh phóng đại 150X được sử dụng để đo các chi tiết cấp độ nhỏ đi kèm với một camera thứ hai, độ phóng đại thấp cho phép xem trực tiếp mẫu hoặc xem chế độ hình ảnh toàn cảnh Macro. Hệ thống camera kép của Bowman, cho phép người vận hành nhìn thấy toàn bộ mẫu, nhấp vào hình ảnh để phóng to bằng máy ảnh cao cấp và xác định chính xác vị trí cần đo lường. Phần mền nhận diện tự động có thể tự động lựa chọn điểm đo. Ngoài ra chức năng bản đồ phân bố 3D có thể được sử dụng để lập bản đồ phân bố bề mặt mẫu.
Dòng W là lý tưởng nhất cho các công ty yêu cầu:
- Cần kiểm tra tấm nền chíp (wafer) trong sản xuất chíp bán dẫn, khung chì, PCB kích thước nhỏ
- Yêu cầu kiểm tra nhanh nhiều mẫu hoặc vị trí
- Mong muốn tự động hóa phép đo trên nhiều mẫu
- Cần thiết phải tuân thủ IPC-4552A, 4553A, 4554 và 4556
- ASTM B568, DIN 50987 và ISO 3497
- Dải nguyên tố đo: 13Al - 92U
- Bộ phát tia X: 50W, 50kV, 1mA
- Bộ thu tín hiệu: SDD cho độ phân giải tốt hơn 135eV
- Số lớp đo tối đa: 5 lớp tính cả nền
- 4 lọc tia X sơ cấp
- Hệ thống quang học mao mạch cho chùm tia 7,5um FWHM
- Độ sâu tiêu cự: cố định tại 0,02inch (0,5mm)
- Độ phóng đại camera: 150X (camera micro-view) lên tới 600X nếu tính phóng đại kỹ thuật số, 10~20X(camera macro-view)
- Kích thước bàn mẫu (x,y): 305mm x 406mm
- Hành trình trục x,y,z: 300mm, 400mm, 100mm
- Kích thước trong: R914 x D100 x C735mm
- Kích thước ngoài: R990 x D787 x C940mm
- Khối lượng 190kg
- Nguồn điện: 150W, 100-240VAC chưa bao gồm máy tính
Đánh giá và nhận xét
Chia sẻ nhận xét về sản phẩm
Viết nhận xét của bạnChưa có câu hỏi cho sản phẩm này.
Những câu hỏi trả lời bởi store
{{item.Content.NoiDungGui}}
Trả lời bình luận