Đề nghị báo giá
Kính hiển vi giao thoa ánh sáng trắng Nikon BW-S502
Kính hiển vi giao thoa ánh sáng trắng Nikon BW-S502
{{productOption.DisplayGiaBan}}
{{productOption.DisplayGiaGiam}}
{{productOption.TiLeGiamGia}}% giảm
{{productOption.DisplayGia}}
Sản phẩm chưa bao gồm VAT
Miễn phí vận chuyển
Cần tư vấn thêm? Hotline/Zalo: 0966 580 080
| Danh mục | Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT > Kính hiển vi - Microscope |
| Thương hiệu | Nikon |
| Model | BW-S502 |
| Tags | |
| Vận chuyển | |
| Cập nhật | 14:24 09/02/2022 |
| Mô tả ngắn | Kính hiển vi giao thoa ánh sáng trắng Nikon BW-S502 sản phẩm chất lượng cao được nhập khẩu chính hãng Nikon uy tín bởi Tecostore. Đặt hàng ngay... |
THÔNG SỐ KỸ THUẬT
- Đơn vị kính hiển vi quang học: BW-FMA
- Trình điều khiển Piezo: Vật kính dẫn động
- Phạm vi quét Piezo: 100 μm
- Trục Z: bằng điện (Hành trình tiêu chuẩn 20 mm)
- Trực XY: thủ công
- Máy tính: Thông số kỹ thuật hiệu suất cao cho BW
- Màn hình điều khiển: Màn hình TFT 27"
- Phần mềm: Bridgelements®
- Camera chụp ảnh: máy ảnh CMOS USB 3.0
- Số pixel: 2046 x 2046, 1022 x 1022 (có thể lựa chọn thông qua phần mềm)
- Vật kính: Vật kính có hai chùm tia giao thoa (2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x)
- Phạm vi quan sát và đo lường (Vật kính hai tia giao thoa 1 trường nhìn)
|
2.5x |
5x |
10x |
20x |
50x |
100x |
||
|
Chiều ngang H (μm) |
4448 |
2224 |
1112 |
556 |
222 |
111 |
|
|
Chiều dọc V (μm) |
4448 |
2224 |
1112 |
556 |
222 |
111 |
|
|
Khoảng cách làm việc (mm) |
10.3 |
9.3 |
7.4 |
4.7 |
3.4 |
2.0 |
|
|
Khẩu độ số (NA) |
0.075 |
0.13 |
0.3 |
0.4 |
0.55 |
0.7 |
|
|
Độ sâu tiêu cự (μm) |
48.5 |
16.2 |
3.03 |
1.71 |
0.9 |
0.56 |
|
|
Độ phân giải pixel (μm) |
2046 x 2046 |
2.18 |
1.09 |
0.55 |
0.28 |
0.11 |
0.06 |
|
1022x 1022 |
4.36 |
2.18 |
1.09 |
0.55 |
0.22 |
0.11 |
|
|
Độ phân giải quang học (μm) |
4.56 |
2.63 |
1.14 |
0.86 |
0.63 |
0.49 |
|
- Hệ thống đo lường quang học: Giao thoa ánh sáng trắng
- Chiều cao phân giải được chỉ định theo thuật toán: 1 pm (0.001 nm)
- Chiều cao phân giải hiệu quả (Tiếng ồn môi trường): 15 pm (0.015 nm)
- Khi bàn chống rung ở trong môi trường không vượt quá tiêu chí rung VC-C
- Khả năng lặp lại phép đo chiều cao bước: σ: 8 nm/8 μm chiều cao bước
- Khi bàn chống rung ở trong môi trường không vượt quá tiêu chí rung VC-C
- Thời gian đo chiều cao (1 trường nhìn, quét 10 μm):
- 2046 x 2046: 19 giây
- 1022 x 1022: 8 giây
- Dải đo chiều cao: < khoảng làm việc của vật kính hoặc < 20 mm
- Hiệu chỉnh: Hiệu chỉnh số hạng mặt phẳng, hiệu chỉnh số hạng tứ phân vị
- Thu phóng kỹ thuật số: Xử lý 1/100 điểm ảnh phụ
- Đo độ nhám: độ nhám 2 chiều (Ra, Rq, Rz), độ nhám 3 chiều (Sa, Sq, Sz)
- Hiển thị biên dạng: Con trỏ đo chiều cao, khoảng cách và góc giữa hai điểm; phép đo bán kính đường tròn gần đúng của vị trí được chỉ định trong biên dạng
- Đầu ra: Xuất hình ảnh đã xử lý và chỉ số độ nhám sang tệp Excel
- Xử lý tự động: Tự động xử lý nhiều hình ảnh chiều cao
- Hiển thị ba chiều: Với phần mềm MS DirectX
- Phần mềm phân tích khác (tùy chọn): Đo thông số hình học, phân tích đa thức Zernike, đánh dấu tia quang học, phân tích kết cấu bề mặt, phân tích độ dày lớp, hiệu chỉnh bề mặt tham chiếu, phân tích hình dạng lỗ
- Hiệu chuẩn độ cao: Mẫu bước chuẩn (tùy chọn) do VLSI Standard Inc thực hiện
- Cơ chế chống rung (tùy chọn): Bàn chống rung chủ động hoặc bàn chống rung thụ động
- Nguồn điện: 100-240 ± 10% VAC
- Không gian cài đặt (R x S x C): khoảng 1800 x 700 x 1600 mm
- Kích thước (R x S x C)/Trọng lượng:
- Kính hiển vi: khoảng 500 x 560 x 700 mm, 23 kg
- Máy tính: khoảng 173 x 471 x 414 mm, 20 kg
TÀI LIỆU SẢN PHẨM
Document_BW-S502
DownloadĐánh giá và nhận xét
Hiện chưa có nhận xét nào cho sản phẩm.
Cho người khác biết ý kiến của bạn và trở thành người đầu tiên nhận xét sản phẩm này.
Trả lời bình luận