- Đơn vị kính hiển vi quang học: BW-LV150N
- Trình điều khiển Piezo: Mâm xoay gắn vật kính
- Phạm vi quét Piezo: 100 μm
- Trục Z: Thủ công
- Trực XY: Thủ công
- Máy tính: Thông số kỹ thuật hiệu suất cao cho BW
- Màn hình: Màn hình TFT 27"
- Phần mềm: Bridgelements®
- Camera chụp ảnh: Camera tốc độ cao
- Số pixel: 510 x 510
- Vật kính: Vật kính có hai chùm tia giao thoa (2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x)
- Phạm vi quan sát và đo lường (Vật kính hai tia giao thoa 1 trường nhìn)
2.5x | 5x | 10x | 20x | 50x | 100x | ||
Chiều ngang H (μm) | 2015 | 1007 | 503 | 251 | 100 | 50 | |
Chiều dọc V (μm) | 2015 | 1007 | 503 | 251 | 100 | 50 | |
Khoảng cách làm việc (mm) | 10.3 | 9.3 | 7.4 | 4.7 | 3.4 | 2.0 | |
Khẩu độ số (NA) | 0.075 | 0.13 | 0.3 | 0.4 | 0.55 | 0.7 | |
Độ sâu tiêu cự (μm) | 48.5 | 16.2 | 3.03 | 1.71 | 0.9 | 0.56 | |
Độ phân giải pixel (μm) | 3.96 | 1.98 | 0.99 | 0.50 | 0.2 | 0.10 | |
Độ phân giải quang học (μm) | 4.56 | 2.63 | 1.14 | 0.86 | 0.63 | 0.49 | |
- Hệ thống đo lường quang học: Giao thoa ánh sáng trắng
- Chiều cao phân giải được chỉ định theo thuật toán: 1 pm (0.001 nm)
- Chiều cao phân giải hiệu quả (Tiếng ồn môi trường): 15 pm (0.015 nm)
- Khi bàn chống rung ở trong môi trường không vượt quá tiêu chí rung VC-C
- Khả năng lặp lại phép đo chiều cao bước: σ: 8 nm/8 μm chiều cao bước
- Khi bàn chống rung ở trong môi trường không vượt quá tiêu chí rung VC-C
- Thời gian đo chiều cao (1 trường nhìn, quét 10 μm): 2 giây
- Dải đo chiều cao: < 90 μm
- Hiệu chỉnh: Hiệu chỉnh số hạng mặt phẳng, hiệu chỉnh số hạng tứ phân vị
- Thu phóng kỹ thuật số: Xử lý 1/100 điểm ảnh phụ
- Đo độ nhám: độ nhám 2 chiều (Ra, Rq, Rz), độ nhám 3 chiều (Sa, Sq, Sz)
- Hiển thị biên dạng: Con trỏ đo chiều cao, khoảng cách và góc giữa hai điểm; phép đo bán kính đường tròn gần đúng của vị trí được chỉ định trong biên dạng
- Đầu ra: Xuất hình ảnh đã xử lý và chỉ số độ nhám sang tệp Excel
- Xử lý tự động: Tự động xử lý nhiều hình ảnh chiều cao
- Hiển thị ba chiều: Với phần mềm MS DirectX
- Phần mềm phân tích khác (tùy chọn): Đo thông số hình học, phân tích đa thức Zernike, đánh dấu tia quang học, phân tích kết cấu bề mặt, phân tích độ dày lớp phủ, hiệu chỉnh bề mặt tham chiếu, phân tích hình dạng lỗ
- Hiệu chuẩn độ cao: Mẫu bước chuẩn (tùy chọn) do VLSI Standard Inc thực hiện
- Cơ chế chống rung (tùy chọn): Bàn chống rung chủ động hoặc bàn chống rung thụ động
- Nguồn điện: 100-240 ± 10% VAC
- Không gian cài đặt (R x S x C): khoảng 1800 x 700 x 1600 mm
- Kích thước (R x S x C), trọng lượng:
- Kính hiển vi: khoảng 500 x 560 x 700 mm, 23 kg
- Máy tính: khoảng 173 x 471 x 414 mm, 20 kg
