Trang chủ / Sản phẩm được gắn thẻ “ AXIS Supra+ Kratos”
- AXIS Supra+ có thể được cấu hình với: + Nguồn ion monatomic Minibeam 4, thông lượng cao Ar+ + Nguồn ion Minibeam 6 là nguồn ion đa chế độ có thể hoạt động ở chế độ cụm Arn+ và chế độ ion monatomic Ar+/He+ + Nguồn tia X đơn sắc đôi Al Kα /Ag Lα (2984,2 eV). - Các kỹ thuật bổ sung có thể được thêm vào AXIS Supra+ trùng khớp với vị trí phân tích XPS mang lại cái nhìn sâu và toàn diện về mẫu. Điều quan trọng, việc bổ sung các kỹ thuật này không làm ảnh hưởng đến hiệu suất XPS hàng đầu thị trường. Các nguồn kích thích tùy chọn bao gồm: + Nguồn tia X Al/Mg tiêu sắc + Đèn phóng Helium mới được cải tiến cho Quang phổ phát xạ quang điện tử ngoại (Ultraviolet Photoemission Spectroscopy-UPS) + Nguồn tia X đơn sắc AgLα năng lượng cao. + Nguồn điện tử phát xạ trường cho Quang phổ điện tử Auger (Auger Electron Spectroscopy-AES), Ánh xạ Auger quét (Scanning Auger Mapping-SAM) và Quang phổ điện tử thứ cấp (Secondary Eelectron Mmicroscopy-SEM) + Quang phổ phát xạ quang điện tử ngược (Inverse photoemission spectroscopy-IPES) - Trạm khoa học bề mặt (SSS) là một buồng chuyên dụng giao tiếp trực tiếp với buồng phân tích mẫu và được thiết kế để chứa một số kỹ thuật đặc trưng bề mặt tùy chọn bao gồm quang phổ khối ion thứ cấp tứ cực (Quadrupole secondary ion mass spectrometry-SIMS), nhiễu xạ điện tử năng lượng thấp (Low energy electron diffraction-LEED) hoặc quang phổ điện tử phát xạ quang điện nghịch đảo (Inverse photoemission electron spectroscopy-IPES).