Mô tả
Máy đo độ nhám MarSurf XR 20 with GD 120
Thông số kỹ thuật
| Nguyên tắc đo lường | Phương pháp đầu dò |
| Đầu dò | Đầu dò R, MFW 250 B |
| Dải đo | MFW 250: ±25 µm, ±250 µm, (lên tới ±750 µm), ±1000 µin, ±10,000 µin (lên tới ±30,000 µin) |
| Lọc theo ISO/JIS | Bộ lọc Gaussian theo ISO 11562, Lọc theo ISO 16610– 21/ISO 16610– 31 |
| Số n của chiều dài lấy mẫu dựa theo ISO/JIS | 1 đến 50 (mặc định: 5) |
| Chiều dài di chuyển | MarSurf GD 26 / SD 26: Tự động; 0.56 mm*; 1.75 mm; 5.6 mm; 17.5 mm, 56 mm, Đo lường đến điểm dừng, có thể thay đổi * Chiều dài di chuyển phụ thuộc vào bộ điều khiển |
| Tham số bề mặt | Hơn 100 thông số bề mặt cho các biên dạng R, P và W theo tiêu chuẩn ISO/JIS hoặc MOTIF hiện hành (ISO 12085) |
Phụ kiện
Tùy chọn phần mềm chung:
- Tùy chọn độ nhăn ưu thế (WDc) cho MarWin
- Tùy chọn thông số bề mặt ISO 13565-3
- Tùy chọn QS-STAT / QS-STAT Plus
- Tùy chọn xử lý biên dạng
- Tùy chọn thông số do người dùng xác định
- Đường viền 1 cho các tùy chọn MarSurf XR 1 / XR 20
- Tùy chọn địa hình
Ứng dụng
Chế tạo máy móc
Vòng bi, ren, thanh ren, vít bi, trục, giá đỡ, van
Công nghiệp ô tô
Hệ thống lái, phanh, hộp số, trục khuỷu, trục cam, đầu xilanh, khối xilanh, turbo tăng áp
Ngành dược
Phép đo độ nhám bề mặt cho các endoprosthes ở hông và đầu gối
Ngành hàng không vũ trụ
Các thành phần tuabin
Quang học
Các thành phần quang học khác nhau
- Hơn 100 tham số bề mặt có sẵn cho các biên dạng R, P và W phù hợp với ISO/JIS, ASME hoặc MOTIF (ISO 12085)
- Theo dõi và thống kê dung sai cho tất cả các thông số bề mặt
- Hướng dẫn các phương pháp để tạo nhanh các chương trình đo Quick & Easy
- Hồ sơ đo lường toàn diện
- Hỗ trợ các phương pháp hiệu chuẩn khác nhau (tĩnh / động) bằng cách chỉ định tham số Ra hoặc Rz
- Khoảng thời gian bảo trì và hiệu chuẩn có thể điều chỉnh
- Nhiều cấu hình trạm đo cho các ứng dụng tùy chỉnh
